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Lichtmikroskope sind ein wichtiger Bestandteil von Forschung und Technik, insbesondere in Bereichen wie Qualitätssicherung, Schadensanalyse, Kriminaltechnik oder Geologie. Hier ist neben der Struktur eines Materials häufig dessen chemische Zusammensetzung von Interesse. Dazu werden zusätzliche Geräte wie Elektronenmikroskope oder Röntgenfluoreszenzspektroskope benötigt. Durch die Verwendung einer Miniaturröntgenquelle ist es möglich, Röntgenfluoreszenzanalysen direkt am Lichtmikroskop durchzuführen. Dabei wird ein Spektroskop direkt in den Objektivrevolver eines herkömmlichen Lichtmikroskops integriert. Die Verwendung von Optiken ermöglicht zudem ortsaufgelöste Analysen. Der geringe Energiebedarf der Spektroskopieeinheit ermöglicht zusätzlich einen portablen, batteriebetriebenen Einsatz. Eine Messung dauert dabei ca. 90 Sekunden und ermöglicht es alle technisch relevanten Materialien zu untersuchen (Ordnungszahl >5 qualitativ und >11 quantitativ). Das Produkt befindet sich in der Entwicklungsphase, wobei die Machbarkeit und Funktionsweise bereits experimentell nachgewiesen wurde. Für mehr Informationen zu X-ELMA und zum aktuellen Stand der Arbeiten setzen Sie sich gern mit uns per Mail oder Telefon in Verbindung (siehe Kontakt).

Light microscopy is used in several fields of science and industry. Especially in material science, failure analysis and geology a chemical analysis of materials is of main interest. The equipment presented here allows a direct chemical analysis in a common light microscope by using an adaptable X-ray fluorescence analyser. Even small microstructural features can be analysed. A portability of this system can be realised by using batteries for the energy supply. The shown concept is not yet ready for market but the experimental proof of concept was finished successfully.

Der Phasen-Element-Orientierungs Analysator befindet sich in der Konzeptionierungsphase und bietet in einem transportablen und kostengünstigen Gerät die Möglichkeit, sowohl die chemische Zusammensetzung einer Probe zu analysieren, als auch Phasengebiete zu charakterisieren und Orientierungsunterschiede zu ermitteln. Als Methode wird dabei Elektronenbeugung in Kombination mit Röntgenspektroskopie genutzt.